在植物生態(tài)學研究中，葉面積指數(shù)是反應植物冠體特性的一個經常被用到的指標。  

     目前，人們獲取葉面積指數(shù)的通用方法大致分為直接法和間接法兩種。直接法：是指采用不同的手段。如稱重法、格子法、掃描法、模型法對離體的葉片直接進行面積測量得出LAI值。間接法：指的是采用不直接接觸葉片的不同方法，如輻射法、網格法、圖像法等手段，先取得冠層的“孔隙度”，然后利用比爾定律推演模型，在一系列假設的基礎上計算出葉面積指數(shù)。

     直接法的優(yōu)點是葉片面積值的測定直觀準確，且無論何種冠層結構類型都可以采用。缺點是必須破環(huán)冠層結構，無法在同一樣品點連續(xù)動態(tài)的觀測。觀測的工作量大，效率低。

    間接法的優(yōu)點是不破壞冠層，可以同點連續(xù)觀測，但由于數(shù)學模型假設條件的限制，同一種模型內的準確性和重復性不夠理想。

    那么，如何準確而又快速地測定LAI呢？我們建議，可以將兩種方法結合起來。對于一個特定的結構（如，盛花期的棉花田），限定一個面積范圍，然后用剪下面積內的所有葉片（如果一個葉片一部分在范圍內，另一部分在范圍外，則取在范圍內的部分）。然后用Yaxin-1241葉面積儀測得總面積。將面積總值除以面積值便得LAI。選取3～5樣品點重復上述測量，求得LAI的平均值做為次冠層的LAI（A值）。隨后，用Yaxin-1201冠層儀獲取上述樣品點的平均LAI（B值）。然后，A/B=K,k值做為兩種方法的修訂系數(shù)。在隨后的測試中采用間接法以提高實驗效率，減少工作量。

   由此可見，Yaxin-1241葉面積儀也可以單獨用來做為測量葉面積指數(shù)(LAI) 的工具。用戶在選購冠層儀時可以根據(jù)自己的需要靈活選擇。

          Yaxin-1241葉面積儀

                 Yaxin-1201冠層儀

 北京雅欣理儀科技有限公司

2016年11月25日